量块的精度测量通常使用干涉仪或比较仪进行。

干涉仪是测量长度的一种仪器，其测量精度较高，因此被广泛用于量块精度的测量。干涉仪的基本原理是利用光的干涉现象来测量长度。当两束相干光波在空间某一点相遇时，它们会相互加强或抵消，形成明暗相间的干涉条纹。通过测量干涉条纹的数量或间距，可以计算出光波的波长，从而得到被测长度的数值。

比较仪是一种精确度较高的长度测量仪器，其原理与游标卡尺相似。比较仪的测量范围通常较小，但其精度较高，可以达到微米甚至纳米级别。比较仪的测量结果较为稳定，因此也常用于量块精度的测量。

除了干涉仪和比较仪之外，还有其他一些测量方法，如光栅测量、激光测距等。这些方法也可以用于量块精度的测量，但精度和稳定性可能不如干涉仪和比较仪。

总之，量块精度的测量需要使用高精度测量仪器，如干涉仪或比较仪。这些仪器可以提供高精度的测量结果，并且具有较高的稳定性和可靠性。